Laser Beam Profiler mit faseroptischem Taper zur Charakterisierung großer Laserstrahlen bis 25 mm x 25 mm.
Optische Messtechnik
Fluoresence microscopy
Das PDL-Multimeter PolaChex™ misst gleichzeitig den polarisationsabhängigen Verlust
(PDL), Einfügungsdämpfung (IL) und optische Leistung eines Prüflings (DUT) in nur 30 ms.
Die hyperspektralen Benchtopsysteme von Resonon sind speziell für den Laboreinsatz entwickelt und enthalten alle Komponenten und Software zur Aufnahme und Analyse von hyperspektralen Datenwürfeln.
Der DOP-201 misst und zeigt den Polarisationsgrad (DOP) einer Lichtquelle in Echtzeit mit hoher Genauigkeit und großem Dynamikbereich an.
Die Hyperspektralkamera Resonon Pika NUV2 deckt den für die ultraviolette Bildgebung optimierten Spektralbereich von 330-800 nm ab.
Das ERM-202 ist ein Zweikanal-Polarisations-Extinktionsverhältnis-(PER)-Messgerät, das speziell zur simultanen Messung der PER- und des Leistungsverhältnisses optischer Komponenten mit zwei polarisationserhaltenden (PM) Faserausgängen wie PM-Koppler, PM-Strahlteiler, Kopplern von PM-Faserkreiseln entwickelt wurde.
Der Laser Beam Profiler BeamMap ermöglicht durch die patentierte Multiplane-Scanning Methode die Vermessung der Fokuslage, des Durchmessers (nach ISO 11146), der Divergenz und des M2-Faktors von Lasern in Echtzeit.
Der PolaStay™ Polarisationsstabilisator von General Photonics stabilisiert aktiv den Polarisationszustand (State of Polarization (SOP)) am Ausgang des Gerätes gegenüber schnellen Änderung des Polarisationszustandes am Eingang.
Das OIS-1000, auch bekannt als das ADAM™ -System (Acute Detection for Advanced Materials), ist ein hochauflösendes optisches und zerstörungsfreies 3D-NDE-System (Non-Destructive Evaluation) zur Inspektion von Verbundmaterialien.
Bei dem StellarCase-NIR handelt es sich um ein NIR Spektrometer Komplettsystem für die direkte Analyse auf Knopfdruck
Der MPC-202 ist ein fortschrittlicher Multifunktions-Polarisationssteller speziell entwickelt für die erhöhten Anforderungen an einen Polarisationsseller.
M²-Messoption für Dataray Beamprofiler zur Messung nach ISO11146.
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Laser 2000 unterstützt Sie, in Zusammenarbeit mit XENLUX, bei Neu- und Weiterentwicklung individueller faseroptischer Komponenten und Subsystemen oder bei der Optimierung bestehender Applikationen. Langjährige Erfahrung garantieren ein verzögerungsfreies Prototyping und damit ein zügiges Time-to-Market.