Die Strahlanalysekamera WinCamD-IR-BB mit integriertem Mikrobolometer-Array ermöglicht Analysen an langwelligen Lasern im Bereich von 2 µm bis 16 µm.
Messtechnik
Fluoresence microscopy
Das Laserlinien Profiling System (LLPS) ist ideal für die Analyse von Laserlinien bis 200 mm Länge und einer minimalen Breite von 55 µm.
MIt dem polarisationserhaltende Strahlteiler können Strahlen hoher Leistungen abgeschwächt werden ohne die Polarisation des Laserstrahls zu verändern.
Übersicht diverser Abschwächeroptionen wie absorbierende und reflektierende Neutraldichte-Filter, sowie polarisationserhaltende, kompakte und variable Abschwächer.
Das ILM-System von DataRay dient der Überwachung von Hochleistungslasern bestehend aus einem Abschwächer für hohe Leistungen und einem Linsensystem. Geeignet zur Vermessung sehr kleiner Laserstrahlen mit Durchmessern weniger Micrometer.
OptoNano Mikroskop mit Hochauflösung durch Optical Microsphere Nanoscopy, CMOS-Kamera mit 5M Pixel, motorisierter XY-Tisch, transparenter LED-Beleuchtungstisch und koaxiale Beleuchtung.
Die Strahlprofil-Kameras BladeCam2-HR und BladeCam2-XHR kombinieren eine extrem kompakte Bauform (Gehäusetiefe von nur 12.84 mm) mit einer sehr hohen Auflösung.
Die kompakten Imaging Module von Opto erreichen Auflösungen im Sub-Mikrometer-Bereich und sind jeweils für spezielle Anwendung optimiert. Sie benötigen keine Kalibrierung und haben eine integrierte Beleuchtung (Koaxial & Ringlicht) sowie umfangreiche Software. Sie bieten ein maximales Bildfeld von 307 x 230 mm².
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Laser 2000 unterstützt Sie, in Zusammenarbeit mit XENLUX, bei Neu- und Weiterentwicklung individueller faseroptischer Komponenten und Subsystemen oder bei der Optimierung bestehender Applikationen. Langjährige Erfahrung garantieren ein verzögerungsfreies Prototyping und damit ein zügiges Time-to-Market.
